WXJD-F 低频介电常数及介质损耗测试仪
产品分类： 变压器测试仪
WXJD-F系列低频绝缘材料介电常数及介质损耗测试仪的工作频率范围是20Hz～5MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε )和介质损耗角 (D或tanδ )变化的测试。该设备的测试装置是由平板电容器组成， 平板电容器一般用来夹被测样品， 配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。
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立即咨询WXJD-F系列低频绝缘材料介电常数及介质损耗测试仪由S916测试装置（夹具）、WXJD-F型介电常数测试主机、组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。
WXJD-F系列低频绝缘材料介电常数及介质损耗测试仪的工作频率范围是20Hz～5MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε )和介质损耗角 (D或tanδ )变化的测试。该设备的测试装置是由平板电容器组成， 平板电容器一般用来夹被测样品， 配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。 绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值） 读数通过公式计算得到。
一、概述
WXJD-F是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%, 测试频率最高5MHz及10mHz的分辨率, 4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面, 操作方便简洁.集成了变压器测试功能,平衡测试功能,提高了测试效率. 仪器提供了丰富的接口,能满足自动分选测试, 数据传输和保存的各种要求.
二、主要测试材料
绝缘导热硅胶，石英晶玻璃，陶瓷片，薄膜，OCA光学胶，环氧树脂材料，塑料材料，FR4 PCB板材，PA尼龙/涤纶，PE聚乙烯，PTFE聚四氟乙烯，PS聚苯乙烯，PC聚碳酸旨，PVC，PMMA等。高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中， 检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。 该样品由石英玻璃， 聚四氟乙烯等材料做成Φ 38mm， 厚 1～2mm 测试样品。 用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性
三、性能特点
1. 全自动一键操作可自动扫描最平稳的量程阶段
2. 微电脑处理器反应迅速可在最短时间内计算出最佳频段
3. 夹具数字显示
4. 4.3寸TFT液晶显示
5. 中英文可选操作界面
6. 最高2MHz的测试频率，10mHz分辨率
7. 平衡测试功能
8. 变压器参数测试功能
9. 最高测试速度:13ms/次
10. 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能
11. V、I测试信号电平监视功能
12. 内部自带直流偏置源
13. 可外接大电流直流偏置源
14. 10点列表扫描测试功能
15. 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻◎内建比较器，10档分选和计数功能
16. 内部文件存储和外部U盘文件保存
17. 测量数据可直接保存到U盘
18. RS232C、USB、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
19. 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性
20. 介电常数测量范围可达1～105
四、主要技术指标
WXJD-F主机参数 | |
ε 和D性能 | |
固体绝缘材料测试频率20Hz～1MHz/20Hz～2MHz/20Hz～5MHz的ε 和D变化的测试 | |
ε 和D测量范围 | ε ： 1～105 D： 0.1～0.00005 |
ε 和D测量精度（10kHz） | ε ： ±2% ， D： ±5%±0.0001 |
测试参数 : | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ ,DCR |
测试频率 | 20Hz～5MHz,10mHz步进 |
测试信号电平 | f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω , 30Ω , 50Ω , 100Ω |
基本准确度 | 0.1% |
显示范围 | L 0.0001 uH～9.9999kH θ :-179.99°～179.99° |
测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz），100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s |
校准功能 | 开路/短路点频、 扫频清零， 负载校准 |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 |
量程方式 | 自动, 保持 |
显示方式 | 直读, Δ , Δ % |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 |
内部直流偏 | 电压模式-5V～+5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式（内阻为50Ω ）-100mA～+100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 |
显示器 | 4.3寸LCD显示 |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件） |
工作频率范围 | 20Hz～2MHz 数字合成 |
精度 | ±0.02% |
电容测量范围 | 0.00001pF～9.99999F 六位数显 |
电容测量基本误差 | ±0.05% |
损耗因素D值范围 | 0.00001～9.99999 六位数显 |
介电常数测试装置(含保护电极) | 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ 6～50mm，厚度<14mm的试样精确测量 |
测试方法 | 可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试 |
微分头分辨率 | 10μm |
最高耐压 | ±42Vp（AC+DC） |
电缆长度设置 | 1m |
最高使用频率 | 5MHz |
S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置 | |
固体 | 材料测量直径Φ38mm；厚度可调 ≥ 15mm |
液体 | 测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配） |
